老化測試系統(tǒng)-芯片測試系統(tǒng)-老化篩選臺-可靠性測試設(shè)備
S-PCTE-1000/3000-36 功率循環(huán)測試機

本系統(tǒng)適用于各種封裝的半導體分立器件進行功率間歇壽命試驗（IOL）、秒級﹙s﹚/分鐘級﹙min﹚功率循環(huán)試驗（Power Cycling）。

產(chǎn)品概述：本系統(tǒng)適用于各種封裝的半導體分立器件進行功率間歇壽命試驗（IOL）、秒級﹙s﹚/分鐘級﹙min﹚功率循環(huán)試驗（Power Cycling）。

引用標準：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、AEC-Q101、IEC60747、AQG-324...

適用器件：各種封裝類型Diode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET、GaN-HEMT等功率模塊

適用行業(yè)：軍工電子、汽車電子、消費電子、軌道交通、半導體器件設(shè)計和封測企業(yè)

濾波器高溫老煉檢測系統(tǒng)（HTOL-能饋型）

產(chǎn)品概述：本系統(tǒng)適用于各種封裝類型的濾波器在高溫環(huán)境下進行功率老煉篩選和穩(wěn)態(tài)壽命試驗（HTOL-能饋型）。

引用標準：GJB548、GJB2438、MIL-STD-883、MIL-M-28787...

適用器件：DC/DC、AC/DC

適用行業(yè)：軍工電子、消費電子、半導體設(shè)計、封測企業(yè)...

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光電耦合器功率老煉檢測系統(tǒng)（OP-Life）

產(chǎn)品概述：本系統(tǒng)適用于各種封裝類型的光電耦合器在常溫環(huán)境下進行功率老煉篩選和穩(wěn)態(tài)壽命試驗（OP-Life）。

引用標準：GJB128、GJB548、GJB597、MIL-STD-750、MIL-STD-883、MIL-M-38510...

適用器件：光電耦合器（單、雙、四）

適用行業(yè)：軍工電子、消費電子、半導體設(shè)計、封測企業(yè)...

光電耦合器高溫老煉檢測系統(tǒng)（HTOL）

產(chǎn)品概述：本系統(tǒng)適用于各種封裝類型的光電耦合器在高溫環(huán)境下進行功率老煉篩選和穩(wěn)態(tài)壽命試驗（HTOL）。

引用標準：GJB128、GJB548、GJB597、MIL-STD-750、MIL-STD-883、MIL-M-38510...

適用器件：光電耦合器（單、雙、四）

適用行業(yè)：軍工電子、消費電子、半導體設(shè)計、封測企業(yè)...

微波射頻器件三溫測試機（TEST）

本系統(tǒng)適用于各類射頻器件高溫、常溫和低溫下的性能測試，具備S參數(shù)測試、線性度測試、電源測試、噪聲系數(shù)測試、相位噪聲測試、矢量信號測試和射頻時序測試功能。硬件上通過開關(guān)矩陣實現(xiàn)各種儀器、儀表的信號切換，軟件上通過高精度快速測量算法、非理想負載校正算法、動態(tài)范圍擴展算法實現(xiàn)無人員干預下全自動測試。本系統(tǒng)還具備了測試單元模組化、測試方案集成化和測試流程一體化的特點，以及載具修正、參數(shù)補償、儀表性能擴展等多項技術(shù)，可全面提高測試精度和效率。

引用標準：SEMI SECS/GEM相關(guān)標準

  Standards referenced：SEMI SECS/GEM related.

  適用器件：濾波器、放大器、耦合器等射頻器件

  Applicable device：Radiofrequency devices likeWave filters, signal amplifiers, couplers, etc.

  適用行業(yè)：軍工電子、汽車電子、車軌交通、消費電子、半導體設(shè)計、封測企業(yè)...

  Applicable industry：Military electronics、automotive electronics、consumer electronics、rail traffic、semiconductor device design、packaging and testing enterprises

老化測試機是一種專為模擬電子、機械或材料部件在長期使用中可能遭遇的應(yīng)力條件而設(shè)計的測試設(shè)備。它通過模擬高溫、高濕、振動等環(huán)境因素，評估產(chǎn)品的耐用性、可靠性和使用壽命，確保在正常使用條件下能穩(wěn)定運行。此測試過程對提升產(chǎn)品質(zhì)量、預防故障及保障消費者安全具有重要意義。